Burloak 獲波音公司檢測(cè)認(rèn)證,，可使用X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描檢測(cè)增材制造鋁零件

Burloak Technologies g公司是Samuel, Son & Co., Limited 的一個(gè)部門,，該公司已獲得波音公司的檢測(cè)資質(zhì)認(rèn)證,，可以使用 X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描檢查符合波音 BSS7046 規(guī)范的增材制造鋁合金部件。

關(guān)于Burloak技術(shù)公司

Burloak Technologies 公司具有為高度工程化,、功能齊全的成品增材金屬和塑料部件提供先進(jìn)檢測(cè)手段的能力,，使這些部件能夠滿足高科技行業(yè) OEM 和一級(jí)和二級(jí)制造商的嚴(yán)格規(guī)范。

這項(xiàng)重要檢驗(yàn)資質(zhì)的獲取是Burloak繼2021 年后的又一項(xiàng)里程碑,，通過檢測(cè)資格認(rèn)定后,，該公司將獲準(zhǔn)按照波音 BAC5673 規(guī)范增材制造鋁 AlSi10Mg 部件,。

Burloak 獲批使用 X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描檢查BSS7046規(guī)格的 AlSi10Mg 鋁合金增材制造零件是在波音對(duì) Burloak 的計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT) 系統(tǒng)進(jìn)行嚴(yán)格評(píng)估之后獲得的,，該系統(tǒng)配備了 300kV 微焦點(diǎn)和 180kV 納米焦點(diǎn)管。資格認(rèn)證過程涉及對(duì)操作員的技術(shù)熟練程度以及相關(guān)實(shí)驗(yàn)室流程和文件的嚴(yán)格檢查

Burloak Technologies 副總裁兼總經(jīng)理 Jason Ball 表示：“這一公告表明我們通過領(lǐng)先的高質(zhì)量制造解決方案支持波音的能力不斷增強(qiáng),。作為一家增材制造公司,，我們致力于提供高質(zhì)量、可靠的產(chǎn)品。CT 掃描是不可或缺的工具,，它使我們能夠以無與倫比的精度檢查和分析 3D 打印部件,，確保我們的客戶收到最高質(zhì)量的產(chǎn)品�,！�

隨著這項(xiàng)資格認(rèn)定的完成,，Burloak Technologies 將繼續(xù)擴(kuò)大其計(jì)算機(jī)斷層掃描能力的范圍，以包括鈦合金,。這將伴隨著 Burloak 的使命,，即通過改進(jìn)其已經(jīng)嚴(yán)格的流程來不斷推動(dòng)行業(yè)向前發(fā)展。

Ball最后表示：“特別感謝波音研究和技術(shù)團(tuán)隊(duì)提供機(jī)會(huì)加強(qiáng)我們持續(xù)的合作伙伴關(guān)系和專業(yè)知識(shí),，使 Burloak 能夠?qū)W習(xí),、改進(jìn)并處于增材制造技術(shù)的前沿�,！�

雖然此資格是波音公司特有的,，但 Burloak 已將計(jì)算機(jī)斷層掃描納入其 ISO17025 范圍，使其可用于任何行業(yè)的商業(yè)用途,。

什么是 X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)

X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT) 是一種非破壞性技術(shù),，用于可視化實(shí)體內(nèi)部特征，并獲取有關(guān)其 3-D 幾何形狀和屬性的數(shù)字信息,。CT 圖像通常稱為切片,，因?yàn)樗鼘?duì)應(yīng)于被掃描對(duì)象在沿平面切開時(shí)的樣子。一個(gè)更好的比喻是面包片,，因?yàn)榫拖衩姘�片有厚度一��,，CT切片對(duì)應(yīng)于被掃描物體的一定厚度。因此,，雖然典型的數(shù)字圖像由像素（圖片元素）組成,，但CT 切片圖像由體素（體積元素）組成。進(jìn)一步類比,，就像一條面包可以通過堆疊其所有切片來重構(gòu)一樣,，通過獲取一組連續(xù)的 CT 切片可以獲得對(duì)象的完整體積表示

CT 切片圖像中的灰度級(jí)對(duì)應(yīng)于 X 射線衰減，它反映了 X 射線在通過每個(gè)體素時(shí)被散射或吸收的比例,。X 射線衰減主要是 X 射線能量和被成像材料的密度和成分的函數(shù),。

X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT)的基本原理

層析成像包括從多個(gè)方向?qū)?X 射線對(duì)準(zhǔn)物體并測(cè)量沿一系列線性路徑的強(qiáng)度降低。這種降低以比爾定律為特征,，該定律將強(qiáng)度降低描述為 X 射線能量,、路徑長(zhǎng)度和材料線性衰減系數(shù)的函數(shù)。然后使用專門的算法來重建被成像體積中的X 射線衰減分布,。

X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT)儀器 - 它是如何工作的,？

X 射線層析成像的元素是 X 射線源,、一系列測(cè)量 X 射線強(qiáng)度沿多個(gè)光束路徑衰減的探測(cè)器，以及相對(duì)于被成像物體的旋轉(zhuǎn)幾何形狀,。這些組件的不同配置可用于創(chuàng)建針對(duì)各種大小和成分的成像對(duì)象進(jìn)行優(yōu)化的 CT 掃描儀,。

絕大多數(shù) CT 系統(tǒng)使用 X 射線管，盡管斷層掃描也可以使用同步加速器或伽馬射線發(fā)射器作為單色 X 射線源來完成,。重要的管特性是目標(biāo)材料和峰值 X 射線能量,，它們決定了生成的 X 射線光譜；電流,，決定 X 射線強(qiáng)度,；和焦斑大小，這會(huì)影響空間分辨率,。

大多數(shù) CT X 射線檢測(cè)器都使用閃爍體,。重要參數(shù)是閃爍體材料、尺寸和幾何形狀,，以及檢測(cè)和計(jì)數(shù)閃爍事件的方法,。一般來說，較小的檢測(cè)器提供更好的圖像分辨率,，但由于與較大的檢測(cè)器相比面積較小,，因此計(jì)數(shù)率會(huì)降低。為了補(bǔ)償,，使用更長(zhǎng)的采集時(shí)間來降低噪聲水平,。常用的閃爍材料有碘化銫、硫氧化釓和偏鎢酸鈉,。

應(yīng)用

CT數(shù)據(jù)幾乎已應(yīng)用于所有地質(zhì)學(xué)科,，并且不斷發(fā)現(xiàn)新的應(yīng)用。迄今為止成功的應(yīng)用包括：

• 測(cè)量晶體,、碎屑,、囊泡等的 3D 尺寸和空間分布。
• 稀有標(biāo)本（化石,、隕石等）的無損體積研究
• 流體流場(chǎng)的 3D 測(cè)量,，包括孔隙度、微孔隙度以及裂縫范圍和粗糙度
• 3D 織物測(cè)定（葉狀結(jié)構(gòu),、形狀首選方向,、網(wǎng)絡(luò)屬性）
• 化石和近代生物標(biāo)本的形態(tài)學(xué)檢查和測(cè)量
• 高密度經(jīng)濟(jì)微量相的檢測(cè)與檢驗(yàn)
• 樣品勘察成像以優(yōu)化地球化學(xué)開發(fā)（例如，定位晶體中心部分,、螺旋軸,、固體和流體包裹體）。
  

△腦部的 3D 重建細(xì)節(jié)圖

X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT)的優(yōu)勢(shì)和局限性,？

優(yōu)勢(shì)

• 完全無損的 3D 成像
• 很少或不需要樣品制備
• 重建通常是衰減保守的,，允許提取亞體素級(jí)細(xì)節(jié)。
  

限制

• 分辨率限制在物體橫截面直徑的 1000-2000 倍左右,；高分辨率需要小物體
• 有限分辨率導(dǎo)致材料邊界有些模糊
• 多色 X 射線對(duì)衰減系數(shù)的灰度級(jí)校準(zhǔn)
• 低能 X 射線無法穿透大型（dm 級(jí)）地質(zhì)標(biāo)本,，降低了分辨能力
• 并非所有特征都具有足夠大的衰減對(duì)比度以用于有用的成像（碳酸鹽基質(zhì)中的碳酸鹽化石；石英與斜長(zhǎng)石）
• 圖像偽影（光束硬化）會(huì)使數(shù)據(jù)采集和解釋復(fù)雜化
• 大數(shù)據(jù)量（千兆字節(jié)以上）可能需要大量計(jì)算機(jī)資源來進(jìn)行可視化和分析